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別圖解,電路板測試維修視頻教程大全.jpg)
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模擬設(shè)備測試需要精確生成和測量電信號(hào),通常需要生成和測量微伏級(jí)電壓和納安級(jí)電流。模擬電路可以使用電壓或電流來表示值。我們常見且最常用的模擬電路例子是運(yùn)算放大器,簡稱運(yùn)算放大器。探針卡在CP測試中用于連接測試機(jī)電路和Die上的Pad。通常用作Loadboard的物理接口。在某些情況下,探針卡通過插座或其他接口電路連接到負(fù)載板。
探針臺(tái)和分選機(jī)的主要區(qū)別在于,探針臺(tái)主要用于晶圓檢測,而分選設(shè)備用于封裝的芯片級(jí)檢測。大規(guī)模集成電路需要數(shù)百次電壓、電流和時(shí)序測試,以及數(shù)百萬個(gè)功能測試步驟,以確保器件完全正確。
帶存儲(chǔ)器的自動(dòng)測試系統(tǒng)使用算法模式生成器(APG)來生成功能測試模型,使得從硬件生成復(fù)雜的功能測試序列成為可能,這樣我們就不需要將它們視為測試向量。節(jié)省。
人們普遍認(rèn)為測試系統(tǒng)是通用的。事實(shí)上,大多數(shù)測試系統(tǒng)都是針對(duì)特殊類型的集成電路而設(shè)計(jì)的。這些專用電路包括:存儲(chǔ)器、數(shù)字電路、模擬電路和混合信號(hào)電路;每種類型都可以詳細(xì)說明。分為更多類,我們這里只考慮這四種。低端測試機(jī)用于測試價(jià)格低廉或性能較低的低端產(chǎn)品,通常是管腳少、復(fù)雜度低的器件;它們通常運(yùn)行在低于20MHz的時(shí)鐘頻率下,并且只能存儲(chǔ)少量的測試向量。用于測試小規(guī)模(SSI)或中規(guī)模(MSI)集成電路。
僅包含數(shù)字邏輯的電路器件可以使用數(shù)字電路測試系統(tǒng)進(jìn)行測試。這些測試系統(tǒng)之間在價(jià)格、性能、尺寸和選項(xiàng)方面存在明顯差異。有些電路同時(shí)具有數(shù)字和模擬部分。例如,AD轉(zhuǎn)換器(ADC)將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),而DA轉(zhuǎn)換器(DAC)則相反。我們稱它們?yōu)榛旌闲盘?hào)電路(Mixed Signal Devices)。
前端測試設(shè)備也稱為過程控制(半導(dǎo)體過程控制),又可細(xì)分為缺陷檢查(inspect)和計(jì)量(metrology)。主要進(jìn)行物理和功能測試。在晶圓生產(chǎn)過程中,每一步都完成。每道工序都需要相應(yīng)的檢測設(shè)備來檢測產(chǎn)品的良率和缺陷。為了保持正確性和一致性,測試系統(tǒng)需要定期校準(zhǔn),以保證信號(hào)源和測量單元的準(zhǔn)確性。
測試高速或高功率設(shè)備需要定制的負(fù)載板。為了保證信號(hào)完整性,這種高性能定制電路板必須完成阻抗匹配——,這對(duì)布局、布線、線長、線寬等都有特殊要求,所以通常需要數(shù)月的時(shí)間來設(shè)計(jì)和制作,非常耗時(shí)。昂貴的。
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